CL5超聲波測厚儀影響因素
影響超聲波測厚儀的指標因素:
- 檢測面與底面不平行,聲波遇到底面產(chǎn)生散射,探頭無法接受到底波信號。
- 工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測厚時,因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點接觸或線接觸,聲強透射率低(耦合不好)。
- 超聲波測厚儀所測工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號。
- 鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,在其中穿過時產(chǎn)生嚴重的散射衰減,被散射的超聲波沿著復(fù)雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒,造成不顯示。
- 探頭接觸面有一定磨損。
- 溫度的影響。
- 層疊材料、復(fù)合(非均質(zhì))材料。
- 金屬表面氧化物或油漆覆蓋層的影響。
聲速測量選件:CL5 VL
可測定聲波穿過鑄件、合金或者塑料時的速度,得出所測材料內(nèi)部組織是否緊密無缺陷。 如可預(yù)先將球墨鑄鐵不同球化率百分比(通過金相法)試樣做出,分別測量其不同的聲速值,對鑄件進行批量檢查。
實時A掃描選件:CL5 AS
可選實時A掃描功能使得用戶可以實時觀察CL 5正在以數(shù)字方式測量的回波。觀察實時A掃描可以幫助用戶正確調(diào)整探頭和測試件,從而獲得zui測量值。用戶通過觀察實時A掃描可以確保測量的是正確的回波并且數(shù)字值也是正確的。
數(shù)據(jù)記錄器選件:CL5 DR
利用數(shù)據(jù)記錄器選項可以快捷地以文件形式存儲厚度值。用戶可*編程的數(shù)據(jù)記錄器zui多可以存儲10000個測量值或者500個帶A掃描的值??删幊虜?shù)據(jù)記錄器可以直接從CL 5鍵盤創(chuàng)建數(shù)據(jù)記錄器文件, 或者利用靈活的UltraMAite或UltraMATE軟件程序通過電腦創(chuàng)建。數(shù)據(jù)記錄器支持字母數(shù)字文件名、標準線性和網(wǎng)格文件以及自定義線性文件。
擴充了的文件類型存儲每一測量點的厚度值、聲速設(shè)置以及其它關(guān)鍵數(shù)據(jù)。CL5 和 UltraMATE一起構(gòu)成了*的測試數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)。
CL5是一個質(zhì)量控制和生產(chǎn)測量工具,可用于各種工業(yè),但主要用于汽車、航空和航天工業(yè)。它可以用于抽檢來料厚度,如鋼圈,也可以通過中間和后期測量,來監(jiān)測機械加工過程。同時,它還可以用于塑料部件的精密厚度測量。CL5兼容各種類型的接觸式探頭和延遲塊探頭,使用延遲塊探頭對薄壁部件進行測厚時,延遲自動測量模式將自動從接觸面回波轉(zhuǎn)為底面回波,再轉(zhuǎn)為多回波測量。