智能化電路板故障診斷系統(tǒng)（進(jìn)口） 型號:BL42-QT200EU庫號：M165590
一、 測試手段 :
1、 在線器件功能測試（快速診斷）
2、 離線器件功能測試（可做器件篩選）
3、 智能化QSM-VI掃描測試
4、 交互式QSM-VI實(shí)時(shí)比較測試
4、 動態(tài)智能化QSM-VI掃描測試
5、 板學(xué)習(xí)測試及板功能測試
6、 具示波器功能、邏輯分析儀功能
智能化電路板故障診斷系統(tǒng)（進(jìn)口） 型號:BL42-QT200EU庫號：M165590
一、 測試手段 :
1、 在線器件功能測試（快速診斷）
2、 離線器件功能測試（可做器件篩選）
3、 智能化QSM-VI掃描測試
4、 交互式QSM-VI實(shí)時(shí)比較測試
4、 動態(tài)智能化QSM-VI掃描測試
5、 板學(xué)習(xí)測試及板功能測試
6、 具示波器功能、邏輯分析儀功能
7、 具電壓、電阻、電容量度測試功能
二、 測試方法 :
1、 將夾具夾在芯片上，輸入芯片型號即可
2、 透過探針測試通道可對分立元件進(jìn)行測試
3、 可配置針床夾具，作為品質(zhì)檢驗(yàn)及多品種小批量生產(chǎn)測試之用
4、 透過探針或夾具對好/壞板進(jìn)行實(shí)時(shí)比較測試
5、 循環(huán)測試（LOOP），診斷隨機(jī)故障
三、 可測試芯片范圍 :
1、 數(shù)字、模擬芯片(運(yùn)算放大器)、混合信號芯片
2、 未芯片、分立元件
3、 整板測試，將電路板視為一個(gè)芯片
四、 技 術(shù) 特 點(diǎn):
1、 操作軟件在視窗下運(yùn)行，靈活、簡單方便
2、 無需線路圖和好板即可檢修故障板
3、 具數(shù)字、模擬器件(運(yùn)算放大器)及混合器件在線功能測試，
4、 可測器件包括：TTL，CMOS，EIA，LSI，+3.3V，±12V，混合邏輯元件，線性元件：DTL，
OPTO，REGULATOR，模擬器件(運(yùn)算放大器)，比較器等，合共超過2萬多個(gè)
5、 數(shù)字器件在線狀態(tài)分析測試
6、 只讀存儲器PROM、EPROM比較測試
7、 讀寫存儲器SRAM、DRAM測試
8、 具在線/離線識別未芯片功能
9、 可同時(shí)測試模擬及數(shù)字信號的器件
10、 具板/元件學(xué)習(xí)及測試功能
11、 具測試夾具自動定位及感應(yīng)功能
12、 具在線測量電阻/電容值及電壓值
13、 具循環(huán)（LOOP）測試功能,可找出間歇性的故障
14、 自動檢測被測器件的自連線關(guān)系
15、 QSM-VI智能化掃描測試，全自動自學(xué)功能，無需編程，就可對任何電路板進(jìn)行測試，并可找出
芯片的短/開路情況
16、 具有動態(tài)QSM-VI智能化掃描測試，可找出由于器件管腳老化而產(chǎn)生噪音干擾的故障
17、 具有邏輯分析儀功能，可顯示被測器件每個(gè)管腳的電平變化
18、 具有直流參數(shù)測試功能,，可觀察被測器件管腳的阻抗和電壓的變化，用于查找性能不良的管腳
19、 具3個(gè)示波器顯示通道功能
20、 透過特制夾具接口，可對電路板進(jìn)行板功能測試
21、 可顯示器件管腳屬性，無需查閱器件手冊
22、 總線型器件測試，可自動提示隔離設(shè)置
23、 測試時(shí)基和門限可由用戶設(shè)定，排除對被測器件因過載而造成的誤判
24、 對測試集電極開路（OC）及 E CL 器件，具有自動上/下拉電阻功能
25、 被測板電源自動通斷，避免對器件造成損壞
26、 具線路跟蹤和反演電路圖功能(選件)
27、 智能圖形化IDDE測試程序，用戶可快速建立自己的芯片測試庫(選件)
28、 快速生成被測板PCB圖，引導(dǎo)測試
29、 具在線自動補(bǔ)償功能，可自動修正測試程序中的驅(qū)動波形，無需人工修改程序
30、 可配置DIP，SOIC，PLCC等夾具
31、 具自動生成測試報(bào)告，方便分析故障點(diǎn)
32、 可外接打印機(jī)，將測試報(bào)告及波形打印出來
33、 符合后驅(qū)動安全操作的EDF 0053/1 安全標(biāo)準(zhǔn)
五、適用領(lǐng)域:
- 工業(yè)自動控制生產(chǎn)線的維修
- 通信設(shè)備的維修
- 醫(yī)療設(shè)備的維修
- 樣板開發(fā)測試
- 芯片篩選測試
QT200EU 技 術(shù) 規(guī) 格
型 號
功 能
QT200EU
智能化電路板故障診斷系統(tǒng)
數(shù) 字 器 件 功 能 測 試 通 道 規(guī) 格
在線功能測試通道
標(biāo)準(zhǔn)48個(gè)通道，以每卡16個(gè)通道遞增，多可擴(kuò)充到96個(gè)通道
吸收/匯源電源
650/650Ma 每通道
每通道數(shù)據(jù)記憶
8K x 2 BIT RAM
驅(qū)動速度
由2μS至16mS時(shí)鐘段共分14級
隔離通道
8/16
系統(tǒng)供電能力
+5V/7A; -5V/0.5A;
+12V/2.5A; -12V/-0.7A: +24V
測試元件庫種類
TTL，COM，ECL，EIA，LSI，+3.3V,±12V, 混合邏輯元件，線性元件：DTL，OPTO，REGUCATOR，模擬器件，比較器等，合共超過2萬多個(gè)器件
模 擬 器 件 功 能 測 試 通 道 規(guī) 格
基本通道
標(biāo)準(zhǔn)3個(gè)模擬通道，可擴(kuò)充至6個(gè)通道，可作為在線及離線之用
驅(qū)動模式
正弦波/上升弦/方波等或用戶自定義
每通道數(shù)據(jù)記憶
8K x 12 BIT RAM
驅(qū)動電流/電壓
±250mA，±13V
QSM-VI智 能 化 掃 描 通 道 規(guī) 格
QSM- VI通道
標(biāo)準(zhǔn)48個(gè)通道，可擴(kuò)充至96個(gè)通道
QSM-VI探針通道
2個(gè)通道
掃描電壓幅度
±2.5V, ±8.0V, ±13V
掃描頻率
40Hz，312Hz，2.5KHz
輸入方式
測試夾或探針
主控和要求
486DX，586/686以上電腦，16M內(nèi)存，350MB，HD；SVGA顯示器
數(shù) 字 示 波 器 規(guī) 格
通 道 數(shù)
3 個(gè)通道
分 辨 度
12位分辨度
電壓幅度
0-13V (分5段)
時(shí)基
由8µS 至9.6mS
觸發(fā)
自動,正常,單個(gè),正/負(fù)邊緣觸發(fā)
輸入阻抗
由50Ω 至 5MΩ
系 統(tǒng) 規(guī) 格
通訊接口
USB
機(jī)身尺寸
49(W)*30(D)*40(H)Cm
機(jī)身重量
25KG
電源
交流電220V
XP系統(tǒng) USB接口
