| 太陽光譜反射率儀 美國 型號：SSR-E2 | 貨號：ZH10937 |
| 產(chǎn)品簡介： 太陽光譜反射率儀提供準確的材料漫反射和鏡面反射測量，材料樣品Z小厚度可至6.4mm，太陽反射比和吸收比到0.001，重復性達到0.003。 采用鎢絲提供漫反射光源，測量4個濾光探測器、20度近法線入射角的樣品輻射反射。探測器主要覆蓋紫外、藍光、紅光和IR光譜范圍。2個額外的探測器用來重采樣低色溫情況下紅光和IR光源。漫反射和鏡面反射標準體隨機提供，標準體通過美國National Bureau of Standards Materials 標定，儀器經(jīng)過標準體定標后即可開始測量。 默認操作模式下，儀器每完成一個測量循環(huán)的時間為8秒鐘，鎢燈亮6秒的同時并記錄檢測器偏移值，燈亮兩秒鐘后6個探測器進行反射率測量并存儲，計算太陽反射比并顯示在LCD上，然后關(guān)閉光源。通過鍵盤可切換6個探測器的反射比或吸收比顯示。 執(zhí)行標準：美國ASTM C1549-04標準和ASTM E1980-01標準。 參數(shù)： 定制測量頭：標配測量頭用來測量平面樣品材料，可定制測量頭用來測量曲面材料樣品，如13mm直徑圓柱面。 手 柄：便于測量使用 12V便攜供電套裝：可連續(xù)測量5個小時的12V電池、充電器、運輸箱 分 辨 率：LCD顯示反射比、吸收比和透射比至0.001 重 復 性：±0.003 準 確 性：±0.002 漂 移：5分鐘預熱，漂移小于每小時±1%或者讀數(shù)+0.003 溫 度：電子組件Z高操作溫度60℃，測量頭Z高50℃ 濕 度：Z大80% 標 準 體：提供漫反射和鏡面反射標準體，經(jīng)過NBS定標 測量端口：1英寸直徑，Z小樣品直徑1.1英寸， 光 源：插拔式可換鎢絲燈 供 電：100-240VAC電源 線 纜：標配長度1.5m，可選長度10m 重 量：測量頭0.9kg，電子模塊1.8kg，透射率附件4.5kg 透射率測量附件：SSR-T透射率測量附件可以和SSR-R反射測量頭兼容進行樣品太陽輻射透射率測量，透射率測量角度從法線方向至60°可調(diào)，采用漫反射光源 照明并測量。 應用領(lǐng)域： 航空領(lǐng)域：熱控制涂層 控制領(lǐng)域：鍍膜、涂層 太陽能領(lǐng)域：吸收涂層、反射涂層、鏡面和反射鏡 訂貨指南： 太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，反射率測量頭，2個白瓷體，1個鏡面標準體，黑體，6’信號電纜，鹵素光源，光譜性能標準，電源，電源線和運輸箱。 太陽光譜反射率儀：包括電子模塊，具有手柄的反射率測量頭，可實現(xiàn)5個小時連續(xù)測量的12v電池和充電器，2個白瓷體，1個鏡面標準體，黑體，6’信號電纜，鹵素光源，光譜性能標準。電源，電源線和運輸箱。 可選項： 透射率測量附件。 |  |
