顯微型雙折射測量儀日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)居世界前列，并由此開發(fā)出的測量儀器。
主要產(chǎn)品分四部分：
· n 光子晶體光學(xué)元件；
· 雙折射和相位差評(píng)價(jià)系統(tǒng)；
· 膜厚測試儀；
· 偏振成像相機(jī)。
『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測量裝置 WPA/PA系列
· 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的
· 相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布
顯微型雙折射測量儀PA/WPA系統(tǒng)特點(diǎn)：
· 操作簡單/快速測定：*的偏振成像傳感器進(jìn)行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
· 2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀解釋被測樣品的特性。
· 大相位差測試能力（WPA系列）：通過對(duì)三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。
顯微型雙折射測量儀顯微鏡下快速測量PA-Micro
顯微鏡視野下的低相位差樣品的測試。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
曲線圖功能
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軸相位差顯示
l 顯微相位差測試的進(jìn)入模式。
l 適用于低于100nm相位差的透明樣品的低相位差測試。
