超寬范圍雙折射測試儀
日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心,成立的合資公司,尤其是其光子晶體制造技術(shù)居世界前列,并由此開發(fā)出的測量儀器。
主要產(chǎn)品分四部分:
· n 光子晶體光學(xué)元件;
· 雙折射和相位差評價系統(tǒng);
· 膜厚測試儀;
· 偏振成像相機。
『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測量裝置 WPA/PA系列
· 快速定量測量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的
· 相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布
PA/WPA系統(tǒng)特點:
· 操作簡單/快速測定:*的偏振成像傳感器進行簡單的和快速的操作即可測量相位差的分布
· 2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能:二維數(shù)據(jù)的強大分析功能,能夠直觀解釋被測樣品的特性。
· 大相位差測試能力(WPA系列):通過對三組不同波長的測量數(shù)據(jù)進行計算,WPA系統(tǒng)可以測量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。
偏光圖像傳感器的結(jié)構(gòu)和測試原理
超寬范圍雙折射測試儀
超寬范圍的雙折射評價系統(tǒng) WPA-100-H,WPA-100-L-H
WPA-100-H和WPA-100-L-H提供了測量超過10000nm的測量范圍,這遠遠超出了一般雙折射率測量的上限。L-H更是給您一個更大的觀察視場。
超寬范圍雙折射測試儀