一、設(shè)備概述:
本低壓熔斷器觸頭性能測試臺*國家標(biāo)準(zhǔn)IEC60269-1:2009、GB13539.1-2015(低壓熔斷器第1部分:基本要求) 標(biāo)準(zhǔn)中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗(yàn)證”的試驗(yàn)要求,用于模擬熔斷器在嚴(yán)酷使用條件下,驗(yàn)證*運(yùn)行中不受擾動(dòng)的觸頭性能損壞情況。
二、主要技術(shù)參數(shù):
1. 設(shè)備輸出電壓:0~690V;
2. 設(shè)備輸出電流:0~5000A;
3. 通電時(shí)間:1~9999s;
4. 斷電時(shí)間:1~9999s;
5. 試驗(yàn)樣品:3組;
6. 試驗(yàn)循環(huán)次數(shù):1-800次可設(shè)置;