技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | QuaNix 4200 | QuaNix 4500 |
基體 | Fe磁性 | Fe/NFe磁性非磁性 |
探頭形式 | 一體 | |
顯示 | LCD數(shù)字顯示 | |
測(cè)量范圍 | 0-3000μm | Fe:0-3000μm NFe:0-2000μm |
測(cè)量精度 | 0-50μm:≤±1μm, 50-1000μm:≤±1.5%, 1000-2000μm:≤±2%,2000-5000μm≤±3% | |
顯示精度 | 1μm | |
工作溫度 | -10-+60℃ | |
溫度補(bǔ)償 | 0-50℃ | |
zui小基體 | 10mm×10mm | |
zui小曲率 | 凸、凹半徑:3mm/25mm | |
zui薄基體 | Fe:0.2mm,NFe:0.05mm | |
電源 | 5號(hào)電池2節(jié) | |
重量 | 110g | |
尺寸 | 110×60×27mm |
特點(diǎn):
零位穩(wěn)定:
所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位,
可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。
一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后,可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移,
確保準(zhǔn)確測(cè)量
溫度補(bǔ)償:
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù),以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭:
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭,其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
*的直流采樣技術(shù):
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高