美泰MUT550B數(shù)字超聲波探傷儀
美泰MUT550B數(shù)字超聲波探傷儀
MUT550B數(shù)字超聲波探傷儀 工作原理
超聲波探傷是無損檢驗(yàn)的主要方法之一。它是利用材料本身或內(nèi)部缺陷的聲學(xué)性質(zhì)對超聲波傳播的影響，非破壞性地探測材料內(nèi)部和表面的缺陷（如裂紋、氣泡、夾渣等）的大小、形狀和分布狀況以及測定材料性質(zhì)。超聲波探傷具有靈敏度高、穿透力強(qiáng)、檢驗(yàn)速度快、成本低、設(shè)備簡單輕便和對人體無害等一系列優(yōu)點(diǎn)。
MUT550B數(shù)字超聲波探傷儀 商品特點(diǎn)
閘門報(bào)警
門位、門寬、門高任意可調(diào)；B閘門可選擇設(shè)置進(jìn)波報(bào)警或失波報(bào)警；閘門內(nèi)蜂鳴聲和LED燈(吵噪環(huán)境中LED燈報(bào)警非常有效)報(bào)警及關(guān)閉，捕捉標(biāo)記功能可直觀顯示閘門內(nèi)捕捉的回波特征。
數(shù)據(jù)存儲
儀器內(nèi)置海量存儲器，數(shù)據(jù)和文件不會因儀器斷電丟失，存儲內(nèi)容包括通道參數(shù)、波形圖片和錄像文件。支持100組探傷參數(shù)通道，可預(yù)先調(diào)校好各類探頭和儀器的組合參數(shù)，自由設(shè)置各行業(yè)探傷標(biāo)準(zhǔn)；可存儲10000幅探傷回波信號及參數(shù)，實(shí)現(xiàn)存儲、讀出及通過USB接口傳輸。
錄像功能
儀器支持將探傷的過程存成錄像文件，保存到內(nèi)置存儲卡中。錄像文件可以通過儀器回放，zui大支持100個錄像文件，錄像總時長不小于10小時。將探傷的過程錄像并回放，為學(xué)習(xí)探傷提供了很大方便，也便于保存探傷過程供日后分析。
實(shí)時時鐘
實(shí)時探傷日期、時間的跟蹤記錄，并記錄存儲。
通訊接口
USB2.00TG高速通訊傳輸接口，通過USB線纜連接儀器與計(jì)算機(jī)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)文件傳輸；也可工作于USBHost模式，對外連接U盤進(jìn)行操作。
電池模塊
高容量鋰電池模塊便于拆裝，可獨(dú)立充電，也可插線充電，連續(xù)工作時間達(dá)到10小時以上。
性能自檢
可對儀器探頭的組合性能指標(biāo)（水平線性誤差、垂直線性誤差、分辨力、動態(tài)范圍、靈敏范圍、靈敏度余量）進(jìn)行自動測試，并可生成測試報(bào)告。
探傷功能
探傷標(biāo)準(zhǔn)：內(nèi)置各行業(yè)常用探傷標(biāo)準(zhǔn)，直接調(diào)用，方便、快捷
焊縫圖示：可設(shè)置焊縫形態(tài)參數(shù)，探傷中直觀顯示焊縫圖和缺陷及回波路徑
自動校準(zhǔn)：探頭零偏和探頭角度（K值）自動校準(zhǔn)功能；聲速自動測量功能
波峰記憶：實(shí)時檢索缺陷zui高波，記錄缺陷峰值回波
缺陷定位：實(shí)時顯示缺陷水平、深度（垂直）、聲程位置
缺陷定量：缺陷當(dāng)量dB值實(shí)時顯示
缺陷定性：通過回波包絡(luò)波形，方便人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正：用于曲面工件探傷，可實(shí)時顯示缺陷周向位置和深度
數(shù)模兩用：可不做AVG曲線，采用底波增益法測dB值，實(shí)現(xiàn)數(shù)模兩用，便于操作
Φ值計(jì)算：直探頭鍛件探傷時找到缺陷峰值回波后自動計(jì)算、顯示缺陷當(dāng)量尺寸
DAC/AVG：曲線自動生成，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。曲線隨增益自動浮動、隨聲程自動擴(kuò)展、隨延時自動移動。能顯示任意孔徑的AVG曲線
增 益：總增益量110dB，設(shè)有0.1dB、1dB、2dB、6dB步進(jìn)值，*的全自動增益調(diào)節(jié)及掃查增益功能，使探傷既快捷又準(zhǔn)確
AWS D1.1/1.5: 美國焊接學(xué)會標(biāo)準(zhǔn)，為各類AWS焊縫檢測應(yīng)用提供一個動態(tài)反射體“缺陷定級”。可避免手工計(jì)算，提高檢測效率
裂紋測深：利用端點(diǎn)衍射波自動測量、計(jì)算裂紋深度
門內(nèi)展寬：放大回波細(xì)節(jié)，便于回波分析
連續(xù)記錄：實(shí)時記錄波形，存儲、回放
波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析
回波編碼：以不同顏色顯示1～6次回波顯示區(qū)，更好的區(qū)分一次波、二次波，便于判斷缺陷位置
彩色編碼B掃描：實(shí)時掃查、橫截面顯示，使探測結(jié)果更直觀
