牛津儀器推出手持式硅漂移探測(cè)器X射線熒光分析儀

　　 新的 X 射線熒光 （XRF） 分析儀 X-MET5100 將手持式儀器的分析性能提高到全新水平。

　　X-MET5100 將牛津儀器的硅漂移探測(cè)器 （SDD） 和強(qiáng)大的 45 千伏 X 射線管結(jié)合起來，顯示了儀器設(shè)計(jì)上的革命性突破。這種技術(shù)提供了快速、高精度的測(cè)量，并且無需借助復(fù)雜的真空泵或氦氣罐等附屬設(shè)備就可以對(duì)鎂、鋁、硅等輕元素進(jìn)行測(cè)量，這實(shí)在是手持式 X 射線熒光 （XRF） 分析的一大飛躍。

　　PMI 檢測(cè)行業(yè)、廢舊金屬回收行業(yè)、特別是航空工業(yè)終于擁有了他們一直期待的堅(jiān)固的便攜式 XRF 輕元素測(cè)試工具。X-MET5100 保證了鋁及鈦合金的實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量分析的性，它對(duì)檢測(cè)銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時(shí)的敏感性也是的。

　　硅漂移探測(cè)器 （SDD）、45 千伏 X 射線管和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)分析方法的強(qiáng)大結(jié)合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內(nèi)，準(zhǔn)確地分析和確定金屬合金成分。受限物質(zhì)（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質(zhì)可以得到準(zhǔn)確測(cè)量，其速度之快，在從前是*可能的。在幾秒鐘之內(nèi)，就可以得到 ppm 級(jí)的痕量元素檢測(cè)結(jié)果。X-MET5100 的速度和準(zhǔn)確性確保了可靠的實(shí)時(shí)檢測(cè)結(jié)果。

　　X-MET5100 是牛津儀器用于日常多元素分析的 X-MET5000 的升級(jí)產(chǎn)品，后者于今年早些時(shí)候成功推出。這兩款儀器都符合 IP54 （NEMA 3） 防塵防水認(rèn)證要求，能夠承受zui苛刻的工作條件。

　　X-MET5100 已于 9 月在拉斯維加斯鈦展覽會(huì)和德國(guó)埃森世界鋁貿(mào)易博覽會(huì)上成功展出。預(yù)計(jì)將于2008 年11 月11 日至13 日在北京會(huì)議中心舉行的2008（第五屆） 中國(guó)礦業(yè)博覽會(huì)上在中國(guó)展出。