賽默飛SEMICON錦囊打包,滿足您的分析需求
本文來源:賽默飛色譜及痕量元素分析 >>進(jìn)入該公司展臺(tái),轉(zhuǎn)載請注明出處2019年3月22日,歷時(shí)三天的SEMICON CHINA 2019展會(huì)在上海落下帷幕。賽默飛擁有行業(yè)的解決方案,為半導(dǎo)體及相關(guān)行業(yè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)提供多層次技術(shù)支撐。半導(dǎo)體行業(yè)分析利器——Thermo Scientific™ iCAP™ TQs(三重四極桿)ICP-MS的亮相,吸引眾多觀眾駐足交流學(xué)習(xí)。
賽默飛展臺(tái)
半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展,生產(chǎn)力的發(fā)展。1984年個(gè)人電腦開始普及、1990年互聯(lián)網(wǎng)誕生、2002年3G通信時(shí)代來臨、2007年智能手機(jī)誕生,這些時(shí)間節(jié)點(diǎn)上的變化,其實(shí)都有半導(dǎo)體行業(yè)的“大進(jìn)展”。GDP的增長,半導(dǎo)體的影響可謂功不可沒。
硅晶片是應(yīng)用廣泛的半導(dǎo)體基材,工業(yè)上使用對其純度要求特別高,通常需要在99.9999999% 以上。在生產(chǎn)制造過程中,通常需要對其純度進(jìn)行檢測。常用硅純度檢測的方法如:氣相分解—電感耦合等離子體質(zhì)譜聯(lián)用方法(簡稱 VPD 法),具有業(yè)界所需的檢測限和穩(wěn)定性,測試結(jié)果快速可靠。為了得到更加的結(jié)果,去除基體溶液中多原子離子的干擾是非常必要的,比如使用串接式ICP-MS iCAP™ TQs。
iCAP™ TQs ICP-MS助力半導(dǎo)體發(fā)展
賽默飛專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和銷售團(tuán)隊(duì)現(xiàn)場與觀眾進(jìn)行深入探討交流,為半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展貢獻(xiàn)一份力量。
領(lǐng)略TQ技術(shù):的干擾消除能力,確保準(zhǔn)確可靠的測試結(jié)果
• 利用多達(dá)四種不同的碰撞反應(yīng)氣體和*的Reaction Finder技術(shù)來簡化方法開發(fā)步驟。無需擁有復(fù)雜反應(yīng)化學(xué)的高深知識(shí),Reaction Finder幫您完成一切
• 綜合反應(yīng)氣體處理功能,確保儀器操作安全可靠
• 采用預(yù)設(shè)的單模式動(dòng)能歧視效應(yīng)(KED),簡便、快速、可靠地獲得SQ的分析結(jié)果
• 在單個(gè)樣品的分析中輕松實(shí)現(xiàn)從SQ到TQ模式的切換,保證大的分析靈活性,為完整分析提供jia結(jié)果
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多層次技術(shù)支撐滿足您的分析要求
一、痕量金屬及無機(jī)元素雜質(zhì)檢測方案
1. ICP-MS 檢測解決方案
Thermo Scientific™ ICP-MS 產(chǎn)品包括Thermo Scientific™ iCAP™ RQ (單四極桿) 和 Thermo Scientific™ iCAP™ TQs(三重四極桿),可輕松實(shí)現(xiàn):
1)高純試劑(清洗劑和刻蝕劑)中痕量元素雜質(zhì)實(shí)驗(yàn)室和在線分析;
2)單晶硅錠和晶圓中痕量元素分析;
3)wafer 表面痕量元素分析。
ICAP RQ
ICAP TQ
2. 高分辨 ICP-MS 檢測解決方案
HR-ICP-MS 是以電磁場和靜電場作為質(zhì)量分析器,結(jié)合zhuan利的固定分辨率狹縫技術(shù)實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量分辨率的ICP-MS。采用高分辨ICP-MS 分析半導(dǎo)體級(jí)別試劑中雜質(zhì)元素更簡單方便,高分辨ICP-MS 具有更強(qiáng)的抗干擾能力。
ELEMENT™ 系列 ICP-MS
二、痕量離子態(tài)雜質(zhì)檢測方案
1. 離子色譜(IC)檢測解決方案
賽默飛提供世界xian進(jìn)的離子色譜和相關(guān)技術(shù)為高純水痕量陰陽離子分析的離線和在線監(jiān)測、半導(dǎo)體表面痕量陰陽離子污染分析、高純試劑中離子雜質(zhì)和工作場所空氣中痕量離子態(tài)物質(zhì)的分析提供解決方案。尤其是高純水,幾乎半導(dǎo)體生產(chǎn)的所有過程均需要使用,因此其質(zhì)量非常重要,如ASTM 和SEMI 對高純水中雜質(zhì)離子有不同的明確限值要求。
通過賽默飛離子色譜,采用大定量環(huán)上樣,可實(shí)現(xiàn)高純水中ppt 級(jí)別雜質(zhì)分析:
Dionex™ ICS-6000多功能高壓離子色譜
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